粉底液鈦白粉檢測(cè)：粒徑分布與遮蓋力相關(guān)性分析

一、行業(yè)背景與檢測(cè)意義

鈦白粉(TiO?)作為粉底液核心原料，其 粒徑分布直接影響遮蓋力(遮蓋力與粒徑呈倒U型關(guān)系，最佳范圍0.2-0.3μm)[來源:GB/T 19077-2016]。2025年某頭部品牌因鈦白粉粒徑不均導(dǎo)致產(chǎn)品遮瑕力差異投訴率上升15%，凸顯檢測(cè)重要性。

二、粒徑分布檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)與方法

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

GB/T 19077-2016《粒度分析 激光衍射法》 ：雖于2025年5月1日廢止，但過渡期仍可參考，推薦采用 GB/T 39665-2020 替代，激光衍射法適用于0.1-3mm粒徑范圍[來源:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)|GB/T 19077-2016]

ISO 13320:2020：國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn)，要求測(cè)試前進(jìn)行超聲分散(功率300W，時(shí)間2分鐘)

前處理關(guān)鍵步驟

分散介質(zhì)：0.1%六偏磷酸鈉水溶液(pH=7.0)

攪拌速度：2000 rpm，避免顆粒團(tuán)聚

遮光率控制：8-12%，確保單次測(cè)量誤差≤2%[來源:GB/T 19077-2016粒度分布 激光衍射法]

三、遮蓋力測(cè)試與相關(guān)性模型

檢測(cè)方法

黑白卡紙法：按GB/T 1726-2020.使用涂膜器制備100μm濕膜，測(cè)定L*值(亮度差ΔL≥35為優(yōu)異遮蓋力)

分光光度法：450nm波長(zhǎng)下測(cè)定吸光度，與標(biāo)準(zhǔn)樣品比對(duì)(R2≥0.999)

相關(guān)性分析

數(shù)據(jù)模型：遮蓋力(Y)與D50粒徑(X)的關(guān)系：Y = -0.8X2 + 0.4X + 0.92(R2=0.98)

最you區(qū)間：D50=0.25μm時(shí)遮蓋力達(dá)最大值，此時(shí)D10≥0.1μm、D90≤0.5μm(粒徑分布跨度Span≤2.0)[來源:化妝品原料鈦白粉檢測(cè)技術(shù)規(guī)范]

四、中科檢測(cè)技術(shù)優(yōu)勢(shì)與案例

儀器配置

激光粒度儀：Malvern Mastersizer 3000(分辨率0.01-3500μm)

分光光度計(jì)：Shimadzu UV-2600(波長(zhǎng)范圍190-1100nm)

客戶案例

某彩妝企業(yè)：優(yōu)化鈦白粉粒徑分布(D50從0.35μm調(diào)整至0.25μm)，遮蓋力提升22%，原料成本降低18%

檢測(cè)周期：7個(gè)工作日出具包含粒徑分布曲線、遮蓋力數(shù)據(jù)及優(yōu)化建議的綜合報(bào)告

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